半导体失效定位！不要错过：同“芯”协力系列云上课堂二！

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各位半导体行业伙伴2023年好！
正值即将到来的兔年新年，在此预祝大家新春快乐，阖家幸福！而我们的云上课堂也即将于春节后2月8日迎来第二课。
上一课我们介绍了赛默飞静电放电及电过应力测试产品组合为用户提供的最优解决方案，以及双束电镜技术的基本原理和前沿应用，如果您错过了这次直播可以在赛默飞材料与结构分析中国官微→往期回顾→直播回放→电镜-半导体中回看。

大家知道我们在对失效点进行双束电镜加工之前最重要的就是精确确定失效点的位置，而失效点定位有多种方式，例如光学失效定位、热失效定位和电失效定位，这些方式互有所长也互为补充。其中光学失效定位和热失效定位的基础原理和应用案例将是我们第二课的重点。同时我们也会进一步介绍PFIB与Laser PFIB的原理及特点，以及与此对应的优势应用领域，同样干货满满！
2023年2月8日14:00-15:30赛默飞同“芯”协力系列云上课堂开讲，快快扫码报名吧！
会议时间：2023年2月8日14:00-15:30
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演讲嘉宾：荀爱兵
赛默飞世尔科技EFA应用专家个人简介：负责赛默飞光学失效定位产品的技术支持，熟悉各种光学定位失效技术，对于光学失效定位的应用有丰富的经验。
演讲嘉宾：杨维新赛默飞世尔科技FIB业务拓展经理个人简介：具有9年电子显微镜行业工作经验，熟悉SEM、FIB、TEM、EELS等仪器的应用及workflow开发经验。目前专注于半导体物理失效分析领域，结合多年SEM/TEM应用经验，为逻辑、存储、平板显示等领域客户提供研发以及良率提升过程中物理失效问题的解决方案。杨维新具有中国科学院高能物理研究所硕士学位。